北京恒奧德儀器儀表有限公司
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日用陶瓷熱穩(wěn)定性測(cè)定儀HAD-005日用陶瓷熱穩(wěn)定性測(cè)定儀”是日用陶瓷制品熱穩(wěn)定性的專業(yè)測(cè)試設(shè)備，滿足GB3298－1999日用陶瓷熱穩(wěn)定性測(cè)定方法對(duì)試驗(yàn)儀器的要求；也可用于玻璃及其它硅酸制品熱穩(wěn)定性測(cè)試?！?/p> 查看詳細(xì)介紹
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測(cè)油儀測(cè)油儀按國(guó)家“HJ637-2012”號(hào)標(biāo)準(zhǔn)，將萃取劑自動(dòng)注入水樣中，通過(guò)磁力高速攪拌萃取，將水中油類物質(zhì)萃取到試劑中，經(jīng)具有技術(shù)的分離裝置將水與試劑分離，經(jīng)硅酸鎂吸附動(dòng)、植物油。萃取試劑直接進(jìn)入測(cè)量池中，按照國(guó)標(biāo)要求分別在3030、2960、2930cm-1處自動(dòng)測(cè)量并計(jì)算總油、石油類和動(dòng)、植物油。
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六合一復(fù)合式氣體檢測(cè)儀六合一復(fù)合式氣體檢測(cè)儀新開(kāi)發(fā)的新一代適用包括EC、LEL、TC、PID、IR、Gamma 等在內(nèi)的所有RAE 傳感器，各種傳感器可任意組合、靈活配置。檢測(cè)精度高，適用于各種危險(xiǎn)環(huán)境使用。 可以同時(shí)檢測(cè)射線和氣體的檢測(cè)儀
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采樣阻力測(cè)試裝置HAD-27091采樣阻力測(cè)試裝置是利用YE-100膜盒壓力表串聯(lián)到大氣采樣器和采樣管之間，測(cè)試一定采樣流量下負(fù)載阻力的測(cè)試裝置。根據(jù)膜盒壓力表指針指示的負(fù)壓值，來(lái)判斷采樣管（Tenax-Ta吸附管、活性炭吸附管、TVOC采樣管、活性炭采樣管等）的阻力大小，同時(shí)也能測(cè)試阻力相同條件下采樣器的抽氣泵的負(fù)載能力。本采樣系統(tǒng)由公司專業(yè)為國(guó)標(biāo)50325-2001（2010版）設(shè)計(jì)生產(chǎn)。
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苯結(jié)晶點(diǎn)測(cè)定儀苯結(jié)晶點(diǎn)測(cè)定儀適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T3145 功能特點(diǎn) 1、進(jìn)口全封閉式壓縮機(jī)制冷；，上蓋安裝試管固定架，配套一支4-6℃精度± 0.02 ℃溫度計(jì)一支。
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現(xiàn)場(chǎng)動(dòng)平衡儀現(xiàn)場(chǎng)動(dòng)平衡儀HAD-604A特點(diǎn)： ? 設(shè)備無(wú)須解體，操作簡(jiǎn)單、平衡精度高； ? 全新中文彩屏式界面，操作更方便； ? 矢量圖解，平衡計(jì)算過(guò)程和結(jié)果一目了然； ? 可存貯/回放10組轉(zhuǎn)子平衡數(shù)據(jù)/記錄；
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微生物限度檢驗(yàn)儀HAD-Y302型微生物限度檢驗(yàn)儀是符合藥典相關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)制造的微生物限度檢查專用設(shè)備，可通過(guò)不同泵頭配合專用的濾杯或限度培養(yǎng)器，形成完整的薄膜過(guò)濾裝置。檢測(cè)時(shí)將供試液通過(guò)薄膜過(guò)濾，將供試液內(nèi)的微生物截留在濾膜上并沖洗去除供試液抑菌性，然后培養(yǎng)形成肉眼可見(jiàn)的菌落并進(jìn)行計(jì)數(shù)，以檢測(cè)供試品內(nèi)的含菌量。此類產(chǎn)品廣泛適用于制藥、疾控、食品、化工、化妝品等行業(yè)的微生物限度檢查。
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電動(dòng)機(jī)運(yùn)行參數(shù)測(cè)試儀電動(dòng)機(jī)運(yùn)行參數(shù)測(cè)試儀該測(cè)試儀是依據(jù)GB12497-2006《三相異步電動(dòng)機(jī)經(jīng)濟(jì)運(yùn)行》國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)家節(jié)能減排的要求而設(shè)計(jì)。運(yùn)用優(yōu)良的檢測(cè)、信號(hào)分析等技術(shù)，適用于電動(dòng)機(jī)運(yùn)行參數(shù)測(cè)試及經(jīng)濟(jì)運(yùn)行判斷；對(duì)其他用電設(shè)備或工頻線路常規(guī)電參數(shù)可在線快速檢測(cè)、計(jì)算、顯示。
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靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗(yàn)儀 1、導(dǎo)電層均勻性相對(duì)誤差＜3%。 2、電極與鍍膜層接觸電阻＜0.1Ω。 3、鍍層與電極的阻值比＞104. 4、測(cè)量點(diǎn)與描繪點(diǎn)之間誤差＜1mm.
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